Halleffekt von Kupfer, Trägerplatte
Trägerplatten mit Probe aus Kupfer zur Messung des normalen Halleffekts
Aufau der Platten:
• die zur Seite herausgeführten 4-mm-Buchsen zur Messung der Hallspannung ermöglichen die problemlose Halterung zwischen den Polschuhen eines Elektromagneten (z.B. Eisenkern 06501.00 mit Polschuhen 6489.00)
• Stiel zur Halterung in Stativmaterial
Die Trägerplatte "Halleffekt von Kupfer" (11803.00) besitzt eine mäanderförmig geätzte Kupferbahn mit integriertem Heizsystem und Thermoelement zum Messen der Leitfähigkeit von Kupfer in Abhängigkeit von der Temperatur.
• Plattenmaße (mm): 160 x 100
• Probenfläche (mm): 25 x 25
• Dicke der Probe: 18 µm
• max. Temperatur: 175 °C
• Heizspannung: 6V
• Heizstromstärke: 5A
• Thermoelement: Cu-NiCu
| Artikel-Nr. | Artikelbezeichnung |
|---|---|
| 11803.00 | Halleffekt von Kupfer, Trägerplatte |
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