Tauchproben zur TK-Bestimmung
Zur Bestimmung der Temperaturabhängigkeit der charakteristischen Parameter wie Widerstand, Durchlassspannung und Sperrspannung an 10 unterschiedlichen elektronischen Bauelementen:
• Kupferdraht • Kohleschichtwiderstand
• Z-Diode, 6,8 V • Z-Diode 2,7 V
• Silizium-Diode • Germanium-Diode
• NTC-Widerstand • PTC-Widerstand
• Konstantandraht (CuNi) • Metallfilmwiderstand, TK 50
Die Bauelemente befinden sich in einem Durchbruch auf einer T-förmigen Platine. Anschluß über 10 separate 4-mm-Buchsen und eine gemeinsame Masse-Buchse. Aufgedruckte Schaltsymbole für jedes Bauelement über der zugehörigen Anschlussbuchse. Zur Messung wird die Platine mit einem hitzebeständigen Kunststoffbeutel umgeben und in ein thermostatisiertes Wasserbad getaucht. Eine Kunststoffwanne fängt das sich im oberen Bereich der Platine niederschlagende Kondenswasser auf.
• Temperaturbereich: 0…100 °C
| Artikel-Nr. | Artikelbezeichnung |
|---|---|
| 07163.00 | Tauchproben zur TK-Bestimmung |
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